博源光電專業提供測量系統產品：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量?！維IX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測?！綛IX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測量；物質/材料的顏色測量。【BIX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量；玻璃等材料的透光性能測量；材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析?！綛IX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量；醫藥領域的定量分析測量；礦物材料等的熒光光譜特性測量。【BIX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測?？蒲泄獯呋瘜嶒灷?，輻照度測量系統調控光照強度，研究催化反應速率。激光驅動控制測量系統歡迎選購

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SIX-8001紅外輻射測量系統

【概述】實際是一套有源熱源檢測臺式紅外熱像儀，通過熱成像及測溫技術直觀呈現熱缺陷或整體溫度分布，并可以進行過程監控。通過本系統，可以助力研究電路板熱分析、微米級元器件檢測、材料應力溫升分析、材料熱力性能分析、化學反應溫度分析、化工工藝溫度監測等。

【特點】~桌面在線式設計，著重過程檢測和記錄。~可調焦式設計，全視距清晰，見微見著。~鏡頭分辨力50微米，熱顯微成像。~專業PC端軟件，豐富的檢測報告內容。

【應用】~電路板熱分析。~微米級元器件檢測。~材料應力溫升分析。~化學反應溫度分析。~化工工藝溫度監測。

杭州博源光電科技有限公司測量系統產品包括：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究?！綛IX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測量；物質/材料的顏色測量?！綛IX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量；玻璃等材料的透光性能測量；材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析。【BIX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量；醫藥領域的定量分析測量；礦物材料等的熒光光譜特性測量。【BIX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測。工業自動化生產中，LD/LED 光源測量系統實時監測光源狀態，提高生產效率。

博源光電生產的測量系統產品型號：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究?！綛IX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量?！維IX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測量；物質/材料的顏色測量。【BIX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量；玻璃等材料的透光性能測量；材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析?！綛IX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量；醫藥領域的定量分析測量；礦物材料等的熒光光譜特性測量?！綛IX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測。拉曼測量系統助力超導體研究，分析超導材料電子態，探索超導機制。杭州BIX-8801 LD/LED光源測量系統供應商家

BIX-8801，LD/LED光源測量系統可應用于半導體發光器件研究，光電材料特性研究等。激光驅動控制測量系統歡迎選購

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