探針的標(biāo)記也可以采用隨機(jī)引物法，即向變性的探針溶液加入6個(gè)核苷酸的隨機(jī)DNA小片段，作為引物，當(dāng)后者與單鏈DNA互補(bǔ)結(jié)合后，按堿基互補(bǔ)原則不斷在其3’OH端添加同位素標(biāo)記的單核苷酸，這樣也可以獲得比放射性很高的DNA探針。DNA探針是以病原微生物DNA或RNA的特異性片段為模板，人工合成的帶有放射性或生物素標(biāo)記的單鏈DNA片段，可用來(lái)快速檢測(cè)病原體。DNA探針將一段已知序列的多聚核苷酸用同位素、生物素或熒光染料等標(biāo)記后制成的探針。可與固定在硝酸纖維素膜的DNA或RNA進(jìn)行互補(bǔ)結(jié)合，經(jīng)放射自顯影或其他檢測(cè)手段就可以判定膜上是否有同源的核酸分子存在。（1）電子光學(xué)系統(tǒng)。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。黃浦區(qū)特制探針推薦貨源

該系統(tǒng)為電子探針?lè)治鎏峁┚哂凶銐蚋叩娜肷淠芰浚銐虼蟮氖骱驮跇悠繁砻孓Z擊殿處束斑直徑近可能小的電子束，作為X射線(xiàn)的激發(fā)源。為此，一般也采用鎢絲熱發(fā)射電子槍和2-3個(gè)聚光鏡的結(jié)構(gòu)。 為了提高X射線(xiàn)的信號(hào)強(qiáng)度，電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流（在10-9-10-7A范圍），常用的加速電壓為10-30 KV，束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分與掃描電鏡明顯不同之處是由光學(xué)顯微鏡。它的作用是選擇和確定分析點(diǎn)。其方法是，先利用能發(fā)出熒光的材料（如ZrO2）置于電子束轟擊下，這是就能觀察到電子束轟擊點(diǎn)的位置，通過(guò)樣品移動(dòng)裝置把它調(diào)到光學(xué)顯微鏡目鏡十字線(xiàn)交叉點(diǎn)上，這樣就能保證電子束正好轟擊在分析點(diǎn)上，同時(shí)也保證了分析點(diǎn)處于X射線(xiàn)分光譜儀的正確位置上。在電子探針上大多使用的光學(xué)顯微鏡是同軸反射式物鏡，其優(yōu)點(diǎn)是光學(xué)觀察和X射線(xiàn)分析可同時(shí)進(jìn)行。放大倍數(shù)為100-500倍。奉賢區(qū)特制探針推薦貨源計(jì)算時(shí)應(yīng)用布拉格方程：nλ=2dsinθ。

細(xì)菌的基因組大小約5×106bp，約含3000個(gè)基因。各種細(xì)菌之間絕大部分DNA是相同的，要獲得某細(xì)菌特異的核酸探針，通常要采取建立細(xì)菌基因組DNA文庫(kù)的辦法，即將細(xì)菌DNA切成小片段后分別克隆得到包含基因組的全信息的克隆庫(kù)。然后用多種其它菌種的DNA作探針來(lái)篩選，產(chǎn)生雜交信號(hào)的克隆被剔除，***剩下的不與任何其它細(xì)菌雜交的克隆則可能含有該細(xì)菌特異性DNA片段。將此重組質(zhì)粒標(biāo)記后作探針進(jìn)一步鑒定，亦可經(jīng)DNA序列分析鑒定其基因來(lái)源和功能。因此要得到一種特異性DNA探針，常常是比較繁瑣的。

電子探針儀（圖1）主要包括：探針形成系統(tǒng) (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線(xiàn)信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)和顯示、記錄系統(tǒng)、樣品室、高壓電源和掃描系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。電子探針的**早應(yīng)用領(lǐng)域是金屬學(xué)。對(duì)合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析，直觀而方便，還能較準(zhǔn)確地測(cè)定元素的擴(kuò)散和偏析情況。此外，它還可用于研究金屬材料的氧化和腐蝕問(wèn)題，測(cè)定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等，是機(jī)械構(gòu)件失效分析、生產(chǎn)工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針?lè)治稣掌Ｌ结樋☉?yīng)用在IC尚未封裝前，針對(duì)裸晶系以探針做功能測(cè)試，篩選出不良品、再進(jìn)行之后的封裝工程。

利用電子探針?lè)治龇椒梢蕴街牧蠘悠返幕瘜W(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠罚瑯悠繁砻嬉鍧崱Ｓ貌ㄗV儀分析樣品時(shí)要求樣品平整，否則會(huì)降低測(cè)得的X射線(xiàn)強(qiáng)度。定性分析1 點(diǎn)分析用于測(cè)定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線(xiàn)信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線(xiàn)分析用于測(cè)定某種元素沿給定直線(xiàn)分布的情況。方法是將X射線(xiàn)譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線(xiàn)信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線(xiàn)軌跡掃描，便可得到該元素沿直線(xiàn)特征X射線(xiàn)強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線(xiàn)的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線(xiàn)強(qiáng)度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線(xiàn)分析像。可見(jiàn)，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線(xiàn)峰較強(qiáng)。只要令探測(cè)器連續(xù)進(jìn)行2θ角的掃描，即可在整個(gè)元素范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)量。黃浦區(qū)特制探針推薦貨源

電子束轟擊樣品表面將產(chǎn)生特征X射線(xiàn)，不同的元素有不同的X射線(xiàn)特征波長(zhǎng)和能量。黃浦區(qū)特制探針推薦貨源

探針是用于測(cè)試PCBA的一種測(cè)試針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠(chǎng)家有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT探針的材質(zhì)：W，ReW,CU、 A+1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。探針?lè)诸?lèi)探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；黃浦區(qū)特制探針推薦貨源

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