深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-05

在長時(shí)間連續(xù)測試過程，測試座的溫度變化可能會(huì)對(duì)測試結(jié)果產(chǎn)生以下影響： 接觸電阻變化：比較大多數(shù)金屬材料的電阻會(huì)隨溫度升高而增比較大。當(dāng)測試座在連續(xù)測試過程中溫度升高時(shí)，其導(dǎo)電部分（如接觸探針、線路等）的電阻也會(huì)相應(yīng)增加，導(dǎo)致接觸電阻增比較大，從而影響信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性，使測試得到的電壓、電流等參數(shù)出現(xiàn)偏差。 材料性能變化：測試座所使用的一些材料（如絕緣材料、彈性材料等）在溫度變化時(shí)可能會(huì)發(fā)生性能改變。例如，絕緣材料可能會(huì)因?yàn)闇囟壬叨霈F(xiàn)絕緣性能下降的情況，導(dǎo)致漏電現(xiàn)象增加，影響測試的安全性和準(zhǔn)確性；彈性材料可能會(huì)因?yàn)闇囟冗^高而失去彈性，造成接觸不良。 信號(hào)傳輸特性改變：溫度變化還可能影響測試座內(nèi)部線路的電容、電感等參數(shù)，進(jìn)而改變信號(hào)傳輸?shù)奶匦裕绯霈F(xiàn)信號(hào)延遲、衰減等問題，使測試結(jié)果與實(shí)際情況不符。

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