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SIX-8001紅外輻射測量系統

【概述】實際是一套有源熱源檢測臺式紅外熱像儀，通過熱成像及測溫技術直觀呈現熱缺陷或整體溫度分布，并可以進行過程監控。通過本系統，可以助力研究電路板熱分析、微米級元器件檢測、材料應力溫升分析、材料熱力性能分析、化學反應溫度分析、化工工藝溫度監測等。

【特點】~桌面在線式設計，著重過程檢測和記錄。~可調焦式設計，全視距清晰，見微見著。~鏡頭分辨力50微米，熱顯微成像。~專業PC端軟件，豐富的檢測報告內容。

【應用】~電路板熱分析。~微米級元器件檢測。~材料應力溫升分析。~化學反應溫度分析。~化工工藝溫度監測。

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SIX-8001紅外輻射測量系統可應用于電路板熱分析，微米級元器件檢測，材料應力溫升分析等。浙江BIX-8814 熒光測量系統批量定制

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