硅硅光芯片耦合測試系統中硅光耦合結構需要具備:硅光半導體元件,在其上表面具有發硅光受硅光部,且在下表面側被安裝于基板;硅光傳輸路,其具有以規定的角度與硅光半導體元件的硅光軸交叉的硅光軸,且與基板的安裝面分離配置;以及硅光耦合部,其變換硅光半導體元件與硅光傳輸路...
在硅光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光子芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是至關重要的一步驟,現有的硅硅光芯片耦合測試系統系統是將硅光芯片的輸入輸出端硅光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調硅光,并依靠對輸出硅光的硅光功率進行監控,再反饋到微...
硅光芯片耦合測試系統系統的測試設備包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,通過光矩陣的光路切換,每一時刻在程序控制下都可以形成一個單獨的測試環路。其光路如圖1所示,光源出光包含兩個設備,調光過程使用ASE寬光源,以保證光路通過光芯片后總是出光,ASE光源輸...
光學平臺系統包括光學臺面和隔振腿。光學平臺可放置儀器并對振動進行控制。光學平臺臺面是隔振系統中重要的一部分,其主要作用是提供一個無相對形變的剛性平臺,當有振動源傳遞到桌面時,桌面蜂窩結構和阻尼可有效減弱光學平臺振動變形。隔振腿除了支撐,主要作用是隔離來自地面的...
光學平臺系統包括光學臺面和隔振腿。光學平臺可放置儀器并對振動進行控制。光學平臺臺面是隔振系統中重要的一部分,其主要作用是提供一個無相對形變的剛性平臺,當有振動源傳遞到桌面時,桌面蜂窩結構和阻尼可有效減弱光學平臺振動變形。隔振腿除了支撐,主要作用是隔離來自地面的...
熱穩定性的關鍵之處在于各軸方向上都具有對稱、各向均勻的鋼制結構。鋼制部件在熱交換過程中的延伸性和收縮性是相似的,可以在溫度變化過程中保持良好的平整度。鋼制的蜂窩芯結構從頂板延伸到底板,中間并無塑料或鋁質泄露管理結構,因此不會降低平臺整體的剛度或是引入更高的熱膨...
光學平臺平面度(≤0.05㎜/㎡):該指標越小即表明臺面越平整,調整光路就越容易。一般出廠要求平面度小于0.05㎜/㎡,檢測方法一般有:光電自準直儀法、光學平面度檢查儀檢測法、水平儀檢測法、激光平面度檢測儀等等。對安裝在實驗室的光學平臺平面度一般采用光電直準儀...
平臺和面包板設計還可以采用大半徑圓角,這樣能減少實驗室中的尖銳邊緣,提高安全性。光學平臺包括剛性、無隔振支撐架,被動式隔振支撐架,主動式自動調平支撐架。光學平臺其他配件還包括貨架、安裝座、桌下擱板、振動隔離配件、可安裝支桿的光學平臺配件、可調式光學爬升架安裝座...
光纖耦合系統及耦合方法涉及光纖耦合技術領域,解決了有效工作范圍小,耦合對準精度低,受大氣湍流干擾嚴重的問題,系統包括一種光纖耦合系統,包括光斑追蹤快反鏡,追蹤鏡驅動器,分光片,成像透鏡組,光斑位置探測器,圖像處理機,章動耦合快反鏡,耦合鏡驅動器,耦合透鏡組,耦...
我們公司研發的光纖耦合系統中通常存在大氣擾動、環境振動、溫度和重力變化以及器件應力釋放等動態因素引起的光束抖動和光軸偏離,當光斑偏移光纖的中心大于模場直徑2w0時,空間光將無法耦合進入單模光纖。本發明系統校正后的空間光與光纖光軸的對準偏差<0.1w0,校正精度...
光纖耦合系統,包括角錐棱鏡、傾斜反射鏡、分光鏡、第1透鏡、三維平移臺、1×2光纖分束器、標定激光器、接收終端、光電探測器、第二透鏡、第1驅動器、控制處理機和第二驅動器。標定激光器發出光束經第1透鏡準直為平行光,小部分光能量經分光鏡透射后由角錐棱鏡共軸返回,再次...
硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:1、使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;2、將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具...
探針卡常見故障分析及維護方法:芯片測試是IC制造業里不可缺少的一個重要環節。芯片測試是為了檢驗規格的一致性而在硅片集成電路上進行的電學參數測量。硅片測試的目的是檢驗可接受的電學性能。測試過程中使用的電學規格隨測試的目的而有所不同。如果發現缺陷,產品小組將用測試...
我們公司研發的光纖耦合系統中通常存在大氣擾動、環境振動、溫度和重力變化以及器件應力釋放等動態因素引起的光束抖動和光軸偏離,當光斑偏移光纖的中心大于模場直徑2w0時,空間光將無法耦合進入單模光纖。本發明系統校正后的空間光與光纖光軸的對準偏差<0.1w0,校正精度...
平臺振動的周期或頻率與初始(或外界)條件無關,而只與系統的固有特性有關,稱為光學平臺的固有頻率或者固有周期。通常來說,固有頻率越低,系統的隔振性能就越強。外界振動同物體的固有頻率相同時,通常會引起共振,往往不是好事,甚至會產生嚴重后果,比如:正常人體的固有頻率...
通常,參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點,到達被測器件,并后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意,問題可能...
自動耦合光纖耦合系統:該系統的主要特點是徹底解決了自動系統對操作人員要求熟練程度高,產品一致性不好、效率不高等缺點。系統采用多軸自動調節,兩軸傾斜采用自動調節(調節器件端面平行)。同時,還解決了初始光自動查找的難題,使得員工比較容易上手。在系統中,采用了我們自...
通過調整預制棒的結構參數能得到所需結構與尺寸的光子晶體光纖耦合系統,具有非常靈活設計自由度。不同的空氣孔結構和排布使得折射率引導型光子晶體光纖耦合系統具有特定的模式傳輸特性。特別需要指出的是,研究還發現折射率引導型光子晶體光纖耦合系統包層中空氣孔的周期排列不是...
探針臺的日常維護:無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺,向工作臺都是其主要的部分。有數據表明探針測試臺的故障中有半數以上是工作臺的故障,而工作臺故障有許多是對其維護保養不當或盲目調整造成的,所以對工作臺的維護與保養就顯得尤為重要。平面電機由定子和動子組成,...
硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序,其程序流程如下:首先向自動耦合臺發送耦合請求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道號,然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起,直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請...
探針測試原理:參數測試系統將電流或電壓輸入被測器件,然后測量該器件對于此輸入信號的反應.從量測儀器通過電纜線至探針桿,然后通過探針點針測試點到被測器件,并后沿原路返回量測器儀。計算機在我們生活中越來越重要。計算機的主要部件是**處理器(CPU)和存儲器(RAM...
光學平臺中提到的大相對位移有別于精密位移臺中的相關概念,通常光學平臺的大相對位移指標,是指在特定的測試條件和環境中,臺面本身的變形量。比如在一個隔離了外界振動的環境中,放置負載和空載情況下,通過平面度檢測儀測量臺面的變形。臺面的尺寸,通常取300mm×300m...
光纖耦合系統分為以下幾種:1、非直接耦合:兩個模塊之間沒有直接關系,它們之間的聯系完全是通過主模塊的控制和調用來實現的數據耦合:一個模塊訪問另一個模塊時,彼此之間是通過簡單數據參數(不是控制參數、公共數據結構或外部變量)來交換輸入、輸出信息的。2、標記耦合:一...
光學平臺又稱光學面包板、光學桌面、科學桌面、實驗平臺,供水平、穩定的臺面,一般平臺都需要進行隔振等措施,保證其不受外界因素干擾,使科學實驗正常進行及儀器不受振動影響性能。目前來說,有主動與被動兩大類。而被動又有橡膠與氣浮兩大類。光學平臺使用時注意事項:1、請勿...
探針卡上有細小的金屬探針附著,通過降低探針高度或升高芯片的高度使之和芯片上的焊盤接觸,可以把卡上的線路和芯片的結合焊盤連起來。之后,運行測試程序檢驗芯片合格與否。測試完成后,探針卡于芯片分離,如果芯片不合格,則會在其**做上標記,然后圓片移動到下一個芯片的位置...
平臺振動的周期或頻率與初始(或外界)條件無關,而只與系統的固有特性有關,稱為光學平臺的固有頻率或者固有周期。通常來說,固有頻率越低,系統的隔振性能就越強。外界振動同物體的固有頻率相同時,通常會引起共振,往往不是好事,甚至會產生嚴重后果,比如:正常人體的固有頻率...
其實,在我們的身邊隨處都可以看到半導體的身影。例如你的電腦、電視,智能手機,亦或是汽車等。半導體像人類大腦一樣,擔當著記憶數據,計算數值的功能。探針臺從操作上來區分有手動,半自動,全自動 從功能上來區分有高溫探針臺,低溫探針臺,RF探針臺,LCD平板探針臺,霍...
我們提供的光學平板采用好的鋁材制造。與鋼材相比,鋁材硬重比大,有一-定的抗振性,溫度傳導性好,不良環境中溫度形變小,陽極氧化后美觀,耐磨,但是鋁材的剛性較差,無法承載較大的重里。因此一般用于承載較小的系統種。而且不宜懸空支撐。光學實驗平臺系統由實驗平臺主體、多...
晶圓探針測試臺是半導體工藝線上的中間測試設備,與測試儀連接后,能自動完成對集成電路及各種晶體管芯電參數和功能的測試。隨著對高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價格的電子產品的需求日益增長,這就要求在一個芯片中集成更多的功能并進一步縮小尺寸,從而大片徑和高...
手動耦合系統簡單來說,我們的高精度耦合設備,聚集了高精度,高穩定性,高效率,高性價比,培訓時間短,上手快,以及優越的適用性等優點,能夠兼容水平和垂直耦合,滿足光通信無源器件和有源器件的耦合測試;特別適合于學校研究所使用,定制的方式,可以根據客戶現場的具體應用,...